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THORLABS雙折射顯微鏡成像系統(tǒng)LCC7201

產(chǎn)品介紹

LCC7201工作的波長為633 nm,提供Ø20 mm的視場。該系統(tǒng)所測相位延遲范圍為半波長max. (316 nm),方位角范圍為±90°。此外,還可以定制波長范圍從405 nm到810 nm的工作波長。

在觀察樣品方面,LCC7201包含我們公司的MLS203P2樣品支架,同時還包含三個樣品支架插入件,分別可以固定Ø0.5英寸、 Ø1英寸和2英寸 x 2英寸的光學(xué)元件。MLS203P2在X方向上可以實(shí)現(xiàn)手動調(diào)節(jié),適用于比Ø20 mm視場大的樣品。此外,該系統(tǒng)還兼容Thorlabs的MLS203-1 XY掃描位移臺(提供X軸和Y軸方向的手動調(diào)節(jié)和電動調(diào)節(jié)),升級之后的版本可以掃描更大的樣品。LCC7201的規(guī)格如右表所示。

購買時附帶軟件預(yù)先裝好的Windows筆記本電腦。

性能特點(diǎn)

  • 內(nèi)置波長為633 nm的光源
  • 所測樣品相位延遲為半波長(316 nm),方位角范圍為±90°
  • Ø20 mm的視場
  • 完整的成像系統(tǒng)包含軟件和筆記本電腦
  • 兼容MLS203-1XY掃描位移臺

產(chǎn)品結(jié)構(gòu)與細(xì)節(jié)

技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品尺寸

產(chǎn)品應(yīng)用

Thorlabs的LCC7201雙折射成像系統(tǒng)用于學(xué)術(shù)研究、工業(yè)制造和產(chǎn)品質(zhì)量保證,可以測量晶體和液晶設(shè)備等平整的平面樣品的相位延遲和方位角,非常適合檢測由應(yīng)力引起的雙折射特性。由于該系統(tǒng)基于液晶器件,其內(nèi)部沒有相對機(jī)械運(yùn)動,從而在運(yùn)行過程中非常穩(wěn)定,毫無振動干擾。

詳細(xì)參數(shù)

光源波長:633 nm

延遲測量范圍

標(biāo)準(zhǔn)延遲范圍:0至316 nm

低延遲范圍:0至100 nm

方位角測量范圍:±90°

延遲測量

精度標(biāo)準(zhǔn)延遲范圍:<±10 nm

低延遲范圍:<±1 nm

方位角測量精度

標(biāo)準(zhǔn)延遲范圍:<±3°

低延遲范圍:<±1°

測量速率:<15 s

視場:直徑20mm

空間分辨率:9.77μm

接口:USB 2.0和千兆以太網(wǎng)

相機(jī)分辨率:2048 x 2048像素

尺寸:500.0 mm(D)x 360.0 mm(W)x 672.0 mm(H)

重量:26 kg(57.3 lbs)

工作溫度:0至40°C

儲存溫度:-15至65°C

隨附的配件:筆記本電腦,樣品架,雙折射分辨率目標(biāo)(Item R2L2S1B)

 


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