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KARL DEUTSCH涂層測厚儀(帶探頭)LEPTOSKOP 2042

  • 品  牌:KARL DEUTSCH
  • 型  號:LEPTOSKOP 2042
  • 技術(shù)資料:
  • 閱讀次數(shù):5413

產(chǎn)品介紹

大型圖形顯示48毫米×24毫米,帶照明

校準選項:

出廠前校準,立刻準備測量

校準未知涂層

零點校準

未涂覆基材之一,多箔校準

涂層材料校準

校準數(shù)據(jù)可以單獨存儲在單獨的校準文件,并可以重新裝載

可選的顯示模式,以獲得適應(yīng)測量任務(wù)

輸入和監(jiān)控限制

Windows下讀數(shù)存儲,方便文件管理

可用的PC軟件EasyExport和ICOM

多達999個讀數(shù)統(tǒng)計評估

最小值,最大值,平均值,讀數(shù),標準差,監(jiān)測極限

局部厚度和平均涂層厚度(DINEN ISO2808)

在線統(tǒng)計,所有統(tǒng)計值一目了然

產(chǎn)品可配KARL DEUTSCH探頭

KARL DEUTSCH(卡爾德意志)自1949公司成立以來,一直致力于研發(fā)和生產(chǎn)無損檢測儀器和設(shè)備,是個傳統(tǒng)的家族企業(yè)。產(chǎn)品包括便攜式儀器,臺式儀器, 探頭和滲透裂紋檢測劑。典型的檢測任務(wù)是超聲波焊縫檢測,鑄件缺陷檢驗,用磁粉或滲透方法對鍛件裂紋檢測,軌道交通和航空安全系統(tǒng)中的部件檢測,以及壁厚和涂層厚度測量。

詳細參數(shù)

串行接口:將數(shù)據(jù)傳輸?shù)絉S232或USB

電源:通過電池,USB或電源裝置

測量范圍:0 -20000微米(取決于探頭)

測量速率:高達每秒2讀數(shù)

存儲:最大9999,讀數(shù)高達140文件

測量不確定度(校準后)

涂層厚度<100微米:讀數(shù)+/-1微米的1%

涂層厚度>100微米:讀數(shù)+/-1微米的1..3%

涂層厚度>1000微米:讀數(shù)+/-10微米的3..5%

涂層厚度> 10000微米:讀數(shù)+/- 100微米的5%


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